轴对准系统
轴对准是一种将单个系统或一系列光学或光电系统的光轴与某个参考光轴或机械轴对齐的过程。通常需要使所有轴均处于平行状态。光电成像系统/激光系统的轴对准质量通常以一系列轴对准误差的形式表示,这些误差被定义为光学轴或机械轴之间的夹角。轴对准误差的数量因系统而异:单传感器成像仪通常只有几个误差,而多传感器系统则可能超过十几个(参见“教育”部分)。

在由三个或更多光电系统(如热成像仪、VNIR相机、SWIR相机、激光测距仪、激光指示器和激光笔)组成的多传感器光电监控系统中,轴对准尤为关键。此类成像/激光系统的轴对准校准旨在实现成像器(视线)和激光系统(激光束)的光轴相互平行。若能实现这一状态,则对准误差(两条光轴之间的夹角)即为零。
Inframet 提供五种专为多传感器光电系统轴对准而开发的轴对准测试站:JAVI、JT、JIMS、JAT 和 JTAR。
![]() 图 1. JAVI 轴对准系统 | |
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![]() 图 3. JIMS 轴对准测试站 | |
![]() 图 4. JAT200 移动式轴对准测试站 | ![]() 图 5. JTAR 便携式轴对准测试站 |
| 系统名称 | 待校准的轴对准系统类型 | 被测光电系统的总口径 | 轴对准系统类别 |
| 短程/中程多传感器系统 | <200毫米 | 实验室 | |
| 中/远程多传感器系统 | 200-500 | 实验室 | |
| 远程多传感器系统 | >500毫米 | 实验室 | |
| 短/中程多传感器系统 | 200 毫米 | 移动式 | |
| 通用型 | 无限制 | 移动式 |
需要强调的是,本表所列系统是针对多传感器光电系统(光电)的轴对准而优化的。此外,它们也可用于成像系统的最基础测试(无限远聚焦和分辨率测量)。因此,若不仅需要进行轴对准测试,还需对多传感器光电系统的传感器进行扩展测试,则建议采用更复杂且昂贵的系统,例如 MS 或 MIM 系统。
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