在可见光、近红外和短波红外光谱波段内敏感的成像电子传感器已在工业、国防、安防、科学、环境保护、医学等领域得到广泛应用。仅对可见光-近红外（VIS-NIR）波段敏感的成像传感器几乎全部为硅芯片，采用一系列技术制造，包括CCD、CMOS、ICCD、EMCCD、EBAPS以及sCMOS，既有彩色版本也有单色版本。彩色可见光/近红外（VIS/NIR）传感器仅对可见光范围内的光敏感，而单色可见光/近红外（VIS/NIR）传感器的敏感波长范围可达约 1000 纳米。短波红外（SWIR）传感器大多为 InGaAs 成像传感器，提供多种版本：标准非制冷型，敏感波长范围约为 900 纳米至 1700 纳米；标准制冷型传感器——约1000nm至2200nm；以及扩展型非制冷传感器——约600nm至1700nm。

Inframet提供了一套用于测试VIS-SWIR成像传感器的三站测试系统：

1. VIT测试站是一款图像投影仪，可在可见光-短波红外（VIS-SWIR）范围内，投射出光强可连续调节的、分布于十余个窄光谱带的图像。VIT能够测量可见光-近红外（VIS-NIR）范围内十余个光谱带的成像、辐射测量和光度测量参数。
2. SIT测试站是一种经过校准的光源，具有连续可调的光强和连续可调的波长。SIT可在可见光-短波红外（VIS-SWIR）范围内，针对连续可调的波长测量辐射测量参数。
3. SOL测试站是一种经过校准的光源，其光强可连续调节，光谱带可分步调节。SOL可测量VIS-SWIR范围内分步调节波长下的辐射测量参数以及光度测量参数。

a)	b)
	c)

了解更多：

• 数据表：VIT、SIT、SOL
• Inframet测试系统环境条件建议
• 教育专区
• 资讯专区
• 新闻通讯
• 联系 Inframet

如有其他疑问，请联系我们。