使用单色仪在可变波长下测试分立式探测器看似简单。单色仪是一种发明于100多年前的光谱系统，目前有许多制造商提供此类产品。将单色仪用作可传输不同波长光线的系统，用于相对测量（如光学窗口透射率的测量）非常简单。然而，要构建一个能够在不同波长下（特别是在中波红外/长波红外波段）准确测量光电探测器辐射参数绝对值的系统，却出人意料地困难。只有在充分考虑影响光源、调制器、衰减器、单色仪、电子放大器工作的复杂物理现象，并掌握相关参数的计算方法后，才能准确测量光学探测器的参数。由于对专业技术知识的要求极高，目前仅有少数几家制造商能够生产用于测试光学探测器的系统。 Inframet 隶属于分立式探测器测试系统制造商中的少数精英行列。

Inframet 提供两款用于测试分立式探测器的测试站：

1. TRAL：先进的通用系统，可在设定波长下精确直接测量分立式探测器的所有重要参数（见图 1），
2. TRAK：用于红外分立式探测器简化测试的经济型系统（见图 2）。

图 1. TRAL 测试站

图 2. TRAK 测试站

数据表：

• TRAL测试站
• TRAK测试站

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